Equipment
固体物性化学研究グループ所有機器
当研究グループの設備を利用したい方は井上（kxi＊hiroshima-u.ac.jp）までご連絡ください
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- 原子間力顕微鏡
Cypher S 
- 原子間力顕微鏡
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- CMOS搭載型単結晶X線構造解析装置
Bruker D8 QUEST
（100 – 350 K） 
- CMOS搭載型単結晶X線構造解析装置
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- SQUID磁束計
Quantum Design MPMS-5S
（－5 – +5 T, 1.8 – 400 K） 
- SQUID磁束計
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- 粉末・薄膜X線回折装置
Rigaku RINT-2100 
- 粉末・薄膜X線回折装置
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- 高温単結晶X線解析装置
Bruker SMART APEX
（300 – 1300 K） 
- 高温単結晶X線解析装置
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- 高速液体クロマトグラフィー（HPLC）
日本分析工業 JC-908 
- 高速液体クロマトグラフィー（HPLC）
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- 示差熱天秤
Rigaku TG-DTA 8120 
- 示差熱天秤
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- 強制循環式恒温器
ISUZU わかば
（60 – 200 ℃） 
- 強制循環式恒温器
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- 強制循環式恒温器
ISUZU
（60 – 200℃） 
- 強制循環式恒温器
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- セラミック電気管状炉
アサヒ理化製作所 ARF-40KC
（– 1000 ℃） 
- セラミック電気管状炉
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- 封管用真空ライン
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- 磁気円二色性測定装置（MCD）
JASCO J-820
（10 – 400 K） 
- 磁気円二色性測定装置（MCD）
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- フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）
JASCO FT/IR-660 plus 
- フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）
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- 分光光度計（UV, Vis）
日立 U-3310 
- 分光光度計（UV, Vis）
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- 光学測定用ミニスタット
（5 – 300 K） 
- 光学測定用ミニスタット
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- パージ式グローブボックス
美和製作所 DBO-1 + MM2-H15S 
- パージ式グローブボックス
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- 電気測定用クライオスタット
（5 – 300 K） 
- 電気測定用クライオスタット
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- エレクトロメータ/高抵抗システム
Keithley 6517A 
- エレクトロメータ/高抵抗システム
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- ソースメータ（定電流電源）
Keithley 2601A 
- ソースメータ（定電流電源）
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- ソースメータ（定電流電源）
Keithley 2601B 
- ソースメータ（定電流電源）
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- プレシジョンLCRメータ
Agilent E4980A
（20 – 2M Hz） 
- プレシジョンLCRメータ
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- 極低温磁場中強誘電体・誘電率測定装置
RADIANT Precision LC
(1.8 – 400 K、-5T – +5 T、±200 V) 
- 極低温磁場中強誘電体・誘電率測定装置
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- ALS電気化学アナライザー
BAS モデル610C 
- ALS電気化学アナライザー
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- 自動分極システム
北斗電工 HSV-100 
- 自動分極システム
共同利用設備
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- 極低温単結晶X線解析装置
Bruker SMART APEX Ⅱ
Ultra（10 – 400 K） 
- 極低温単結晶X線解析装置
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- 単結晶X線解析装置
Rigaku SCX mini
（150 – 400 K） 
- 単結晶X線解析装置
