Equipment

固体物性化学研究グループ所有機器

当研究グループの設備を利用したい方は西原(snishi*hiroshima-u.ac.jp)までご連絡ください

  • CMOS搭載型単結晶X線構造解析装置
    Bruker D8 QUEST
    (100 – 350 K)
    CMOS搭載型単結晶X線構造解析装置
  • SQUID磁束計
    Quantum Design MPMS-5S
    (-5 – +5 T, 1.8 – 400 K)
    SQUID磁束計
  • 粉末・薄膜X線回折装置
    Rigaku RINT-2100
    粉末・薄膜X線回折装置
  • 高温単結晶X線解析装置
    Bruker SMART APEX
    (300 – 1300 K)
    高温単結晶X線解析装置
  • 高速液体クロマトグラフィー(HPLC)
    日本分析工業 JC-908

    高速液体クロマトグラフィー(HPLC)
  • 示差熱天秤
    Rigaku TG-DTA 8120

    示差熱天秤
  • 強制循環式恒温器
    ISUZU わかば
    (60 – 200 ℃)
    強制循環式恒温器
  • 強制循環式恒温器
    ISUZU
    (60 – 200℃)
    強制循環式恒温器
  • セラミック電気管状炉
    アサヒ理化製作所 ARF-40KC
    (– 1000 ℃)
    セラミック電気管状炉
  • 封管用真空ライン

    封管用真空ライン
  • 磁気円二色性測定装置(MCD)
    JASCO J-820
    (10 – 400 K)
    磁気円二色性測定装置(MCD)
  • フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR)
    JASCO FT/IR-660 plus
    フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR)
  • 分光光度計(UV, Vis)
    日立 U-3310
    分光光度計(UV, Vis)
  • 光学測定用ミニスタット
    (5 – 300 K)
    光学測定用ミニスタット
  • パージ式グローブボックス
    美和製作所 DBO-1 + MM2-H15S
    パージ式グローブボックス
  • 電気測定用クライオスタット
    (5 – 300 K)
    電気測定用クライオスタット
  • エレクトロメータ/高抵抗システム
    Keithley 6517A
    エレクトロメータ/高抵抗システム
  • ソースメータ(定電流電源)
    Keithley 2601A
    ソースメータ(定電流電源)
  • ソースメータ(定電流電源)
    Keithley 2601B
    ソースメータ(定電流電源)
  • プレシジョンLCRメータ
    Agilent E4980A
    (20 – 2M Hz)
    プレシジョンLCRメータ
  • 極低温磁場中強誘電体・誘電率測定装置
    RADIANT Precision LC
    (1.8 – 400 K、-5T – +5 T、±200 V)
    極低温磁場中強誘電体・誘電率測定装置
  • ALS電気化学アナライザー
    BAS モデル610C
    ALS電気化学アナライザー
  • 自動分極システム
    北斗電工 HSV-100
    自動分極システム

共同利用設備

  • 極低温単結晶X線解析装置
    Bruker SMART APEX Ⅱ
    Ultra(10 – 400 K)
    極低温単結晶X線解析装置
  • 単結晶X線解析装置
    Rigaku SCX mini
    (150 – 400 K)
    単結晶X線解析装置
SDGs
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